摘要:在使用高纯锗γ谱仪测量样品的放射性活度时, 探测器对γ射线的探测效率是影响测量准确度的一个重要因素. 目前使用的两种得到探测效率的方法——标准样品法和蒙特卡洛法, 因为各自的局限性, 都存在一定的系统误差. 结合两种方法, 提出并建立了一种能够消除前两种方法系统误差, 获得更准确的探测效率的新方法:即用蒙特卡洛方法计算待测样和标准样的探测效率的比值, 再乘以实验测量得到的标准样的探测效率, 得到待测样品的探测效率. 所建方法的正确性通过蒙特卡洛软件计算的模拟实验得到了验证, 并证明了新方法能够完全消除标准样品法的系统误差, 并且在绝大多数情况下消除了蒙特卡洛法的系统误差.